Anomax a fait l’acquisition cet été d’une machine à tronçonner LAM PLAN de la gamme CUTLAM® 100% made in France pour compléter son laboratoire d’analyses et de métrologie pour le contrôle d’échantillons.

En effet, nous sommes amenés selon la demande du client, de réaliser des contrôles destructifs ou non destructifs pour des prototypes, des essais, des PPAP, des lancements de production ou pour des contrôles à chaque lot de fabrication en vie série.

Le client nous sollicite alors pour obtenir cette prestation valorisée selon la situation rencontrée.

Par exemple, durant un PPAP, pour des pièces caverneuses ou tubulaires, si le client souhaite mesurer à l’intérieur du composant l’épaisseur de couche d’aluminium convertie. Il n’existe pas d’endoscope universel qui permette de contrôler une épaisseur de couche d’anodisation. Seul un contrôle destructif permet de réaliser cette opération. Il consiste à contrôler l’épaisseur de couche au microscope sur une coupe micrographique. Pour cela, il faut découper le composant en tranche sur le plan où les mesures doivent être élaborées. Cette découpe doit être précise et plane. C’est ici que la machine à tronçonner LAM PLAN intervient.

Anomax, spécialiste de l'anodisation, acquiert une tronçonneuse LAM Plan

Pour l’extérieur du composant, les technologies utilisées sont en effet beaucoup plus simples à mettre en œuvre et sont surtout non destructives : cependant le composant à contrôler doit pouvoir posséder une face plane ou cylindrique de surface suffisante pour obtenir une mesure fiable. Encore plus si le client souhaite une mesure sur une zone particulière du composant. Dans les autres cas, seule une coupe micrographique pour mesure au microscope rend cette mesure possible avec l’intervention possible de la machine à tronçonner LAM PLAN.

Vous ne connaissez pas ce type de contrôle destructif ? Voici une présentation synthétique en 5 étapes du choix de tronçonnage à la mesure d’épaisseur.

 

ETAPE 1 : Choix du moyen de contrôle

Contrôle destructif (CD) ou contrôle non destructif (CND) ? Telle est la question. Dans la mesure du possible tout le monde préfère le CND ! Cependant la morphologie du composant, la limite des appareillages de mesure, la demande du client et le prix des prestations de contrôle sont des paramètres essentiels à intégrer pour choisir un type de contrôle et d’en déterminer aussi son indispensabilité dans l’application client attendue. En effet plus de 90% des clients s’appuient sur nos certificats de conformité. Ces besoins métrologiques sont donc de l’ordre de l’exception ou de l’application nécessitant par obligation ce type de garantie.

Dans notre cas, le client a besoin d’un CD : il faut inspecter sur une surface intérieure l’épaisseur de couche convertie par l’anodisation

ETAPE 2 : Découpe de l’échantillon

Nous avons donc un échantillon à découper. Il y a deux surfaces intérieures à découper : une plane et une cylindrique. Pour la plane, il faudra découper selon un plan perpendiculaire à cette surface plane à contrôler. Pour la cylindrique, selon un plan de découpe passant par son axe de révolution. Si l’on peut, on préférera faire une seule coupe qui réalise tous les plans de découpe attendus.

ETAPE 3 : Préparation de l’échantillon

L’échantillon est découpé selon les plans à contrôler. Il va falloir maintenant le préparer. On va devoir utiliser des moules au fond desquels on va positionner notre échantillon, plan à contrôler au fond du moule. Il existe plusieurs types et tailles de moules (cylindriques, rectangulaires) pour se marier au mieux à la forme et taille de l’échantillon. LAM PLAN a une gamme très large sur le sujet.

Lorsque l’échantillon est positionné, on va le recouvrir de résine de laboratoire, afin de remplir les cavités du composant, élargir la face à contrôler et en obtenant une forme homogène permettant de faciliter la préhension de l’échantillon pour les étapes à venir.

Car à ce stade, il s’agit de polir la surface, à l’aide d’une machine à polir et des disques de polissage. Idem LAM PLAN est bien équipé sur ce sujet. Cette étape est longue et cruciale : en passant de gros grains à des grains plus fins pour obtenir une surface dite « poli miroir ». C’est l’obtention d’une face parfaitement polie, qui permettra d’observer et de mesurer l’épaisseur de couche au microscope.

ETAPE 4 : Contrôle et mesure

La surface est « poli miroir ». Il est donc possible d’observer celle-ci au microscope. Mise au point selon des objectifs de plus en plus puissants, pour passer de la localisation de la zone à contrôler, jusqu’à voir l’épaisseur de couche se dévoiler par un contraste de couleur. La mesure peut avoir lieu : c’est comme mesurer avec une règle, sauf qu’ici la précision est à la virgule du micron !

ETAPE 5 : Rapport de contrôle

Une mesure ne vaut rien sans son rapport qui rappelle le matériel de contrôle utilisé, l’opérateur de contrôle, les mesures obtenues et selon leur quantité, une représentation par Loi Normale avec ses seuils de tolérances et la traçabilité de l’information essentielle à rattacher ce contrôle à votre commande.

Pour connaître les tarifs de nos prestations de contrôle n’hésitez pas à nous contacter.